晶圓切割機(jī),在切割過(guò)程如何控制良品率?晶圓的成本以及能否量產(chǎn)最終取決于良率。晶圓的良率非常重要。在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,我們關(guān)注芯片的性能,但在量產(chǎn)階段必須要看良率,有時(shí)為了良率不得不降低性能。 ![]() 那么晶圓切割的良率是多少呢? 如何控制晶圓良率 很多半導(dǎo)體公司都有專門(mén)從事良率提升的工程師,晶圓代工廠有良率工程師專門(mén)負(fù)責(zé)良率提升(YE)部門(mén)負(fù)責(zé)提升晶圓良率,F(xiàn)abless的運(yùn)營(yíng)部門(mén)有產(chǎn)品工程師(PE)負(fù)責(zé)負(fù)責(zé)提高成品率。由于領(lǐng)域不同,這些工程師的側(cè)重點(diǎn)也會(huì)不同。晶圓廠的良率工程師非常精通制造過(guò)程。他們主要使用公司的良率管理系統(tǒng)(YMS)對(duì)一些與工藝相關(guān)的數(shù)據(jù)進(jìn)行良率分析。一般有以下幾種方法: 1)生產(chǎn)線在線缺陷掃描 2)過(guò)程監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)(WAT) 3)生產(chǎn)線測(cè)量數(shù)據(jù)(Metrology) 4) 工具通用性 5)工藝規(guī)范 6)故障分析 對(duì)于實(shí)際生產(chǎn)線對(duì)于晶圓制造來(lái)說(shuō),監(jiān)控每臺(tái)制造設(shè)備的穩(wěn)定性是非常重要的。如上圖所示,可以由記錄設(shè)備的關(guān)鍵工藝產(chǎn)生,并積累一條隨生產(chǎn)時(shí)間變化的波段曲線,形成工藝精度控制的參數(shù)點(diǎn)。 最后,晶圓經(jīng)過(guò)測(cè)試后,可以通過(guò)自動(dòng)分揀機(jī)剔除有缺陷的芯片,也可以對(duì)性能參差不齊的芯片進(jìn)行分揀,例如英特爾CPU晶圓,可以檢測(cè)出性能更好的芯片。 i7處理器芯片,幾乎做成了i5芯片,其實(shí)是媽媽生的,區(qū)別就是一個(gè)好看,一個(gè)丑。. 也有不同尺寸的晶圓。同一條生產(chǎn)線的良率會(huì)有所不同。小圓片的良率不一定要高于大圓片。這也與設(shè)備工藝的匹配程度有關(guān)。晶圓通常在邊緣區(qū)域具有最壞的裸片。因此,很多生產(chǎn)線都追求大尺寸晶圓,使得邊緣壞芯的比例相對(duì)較低。 但大尺寸晶圓面臨著應(yīng)力、成膜等諸多先天問(wèn)題。例如,前幾年半導(dǎo)體熱衷于10英寸和12英寸生產(chǎn)線,導(dǎo)致8英寸和6英寸生產(chǎn)線被放棄。甚至半導(dǎo)體設(shè)備制造商也沒(méi)有為小尺寸晶圓制造設(shè)備。 |